短波紅外（SWIR）復消色差遠場校正物鏡

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更新時間：2026-02-09
產品介紹：短波紅外（SWIR）復消色差遠場校正物鏡
SWIR 復消色差遠場校正物鏡經過色彩校正可在 800 – 1600nm 波段內，長距離條件下具備高分辨率。這些物鏡提供 1X 至 50X 的放大倍率，具有高數值孔徑，適用于短波紅外波長下的高分辨率成像。這些物鏡具有共同的95毫米平焦距，可以與 200mm 焦距的筒鏡和 C-mount 相機結合使用用于簡單的系統集成。
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l 在短波紅外波段具有高分辨率，波長可達1600nm

l 放大倍率從 1X 到 50X 不等

l 適用于光電發射檢測、激光刻印和激光切割

最大像圈 (mm):

24.00

SWIR 復消色差遠場校正物鏡經過色彩校正可在 800 – 1600nm 波段內，長距離條件下具備高分辨率。這些物鏡提供 1X 至 50X 的放大倍率，具有高數值孔徑，適用于短波紅外波長下的高分辨率成像。這些物鏡具有共同的95毫米平焦距，可以與 200mm 焦距的筒鏡和 C-mount 相機結合使用用于簡單的系統集成。短波紅外復消色差遠場校正物鏡適用于光電發射檢測、晶圓背面檢查、激光玻璃切割和激光掃描顯微鏡等應用。

標題	產品編碼
1X SWIR PE IR Plan APO Objective	26-217
2.5X SWIR PE IR Plan APO Objective	26-218
10X SWIR PE IR Plan APO Objective	26-219
20X SWIR PE IR Plan APO Objective	26-220
50X SWIR PE IR Plan APO Objective	26-221

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