你的位置：首頁(yè) > 產(chǎn)品展示 > 光學(xué)成像 > 測(cè)試標(biāo)板
產(chǎn)品展示-
- 星標(biāo)板
星標(biāo)板可用來鑒別對(duì)焦誤差，像散和其它存在于光學(xué)系統(tǒng)中的像差，有多款供您挑選，直徑為60mm的中心直徑為100μm，可用來測(cè)量高分辨率或高倍率的儀器。本產(chǎn)品都是在玻璃上鍍鉻膜。4”x 4”的既有玻璃版（#46-247），又有相紙版（#46-246），中心直徑為2.7mm，可用來測(cè)量中低倍率的空間頻率，通常用在大型成像系統(tǒng)。
- 型號(hào)：
- 更新日期：2026-02-07 ￥面議
-
- 星標(biāo)陣列
星標(biāo)陣列是用來標(biāo)定對(duì)焦誤差以及光學(xué)系統(tǒng)中各視場(chǎng)點(diǎn)的像散。置于與sensor對(duì)應(yīng)的中心，邊角以及對(duì)角線上，這樣，確定定位和高度的難題就再也簡(jiǎn)單不過了。小陣列板的中心直徑為0.1mm ，大陣列板中心直徑為0.15mm。
- 型號(hào)：
- 更新日期：2026-02-07 ￥面議
-
- USAF 1951以及圓點(diǎn)柵格圖板
USAF 1951以及圓點(diǎn)柵格圖板 USAF 1951 0到 3 號(hào)圖案規(guī)格（14 lp/mm） 在2mm中心處為固定頻率 尺寸規(guī)格為2”x 2.75”
- 型號(hào)：
- 更新日期：2026-02-07 ￥面議
-
- USAF環(huán)形圖案測(cè)試卡
USAF環(huán)形圖案測(cè)試卡可同時(shí)測(cè)試視場(chǎng)中多個(gè)點(diǎn)的分辨率，此圖案可選三種不同規(guī)格的尺寸，1平方英寸，1.5英寸直徑，或1英寸X3英寸的測(cè)試片，每種規(guī)格的測(cè) 試片都有8個(gè)USAF圖案以中心為圓心環(huán)形分布另加中心1個(gè)圖案，各種尺寸都有正片（圖案不透明背景透明），和負(fù)片（圖案透明背景不透明）。
- 型號(hào)：
- 更新日期：2026-02-07 ￥面議
-
- 變頻測(cè)試靶
變頻測(cè)試靶 頻率范圍從5線對(duì)/毫米到120線對(duì)/毫米， 或5線對(duì)/毫米到200線對(duì)/毫米 每種頻率尺站1毫米寬度 5線對(duì)/毫米累增 可用來標(biāo)定視頻系統(tǒng) 可檢測(cè)未知分辨率 多頻率的標(biāo)板是評(píng)估分辨率，畸變和焦面穩(wěn)定性的*工具。
- 型號(hào)：
- 更新日期：2026-02-07 ￥面議
-
- 彩色掃描儀測(cè)試卡
彩色掃描儀測(cè)試卡可作為各種數(shù)字成像設(shè)備或掃描設(shè)備的評(píng)測(cè)工具使用，有5中不同的分辨率規(guī)格供使用（30，75，95，140，和180線對(duì)每英寸），有20個(gè)不同等級(jí)的步進(jìn)式灰階，并用數(shù)字標(biāo)明，2個(gè)片恒定密度，8個(gè)彩色測(cè)試片，以及用郎奇刻線法刻的角度比率為10：1的線條。
- 型號(hào)：
- 更新日期：2026-02-07 ￥面議
